Röntgenfluoreszenzanalyse - RFA

Die Röntgenfluoreszenzanalyse (englisch XRF - X-ray fluorescence spectroscopy) basiert auf dem gleichen Prinzip wie die µRFA. Durch Röntgenstrahlung wird eine Probe angeregt und die daraufhin emittierte elementspezifische Flourenzstrahlung wird analysiert. Der Vorteil beim Einsatz von Röntgenstrahlung gegenüber Elektronenstrahlung ist, dass die Probe nicht elektrisch leitend sein muss, ein größeres repräsentativeres Probenvolumen angeregt werden kann und die Empfindlichkeit für Spurenmetalle größer ist, da weniger Bremsstrahlung erzeugt wird. (Quelle: Hanbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis Recycling)

Es gibt zwei verschiedene Detektorarten für die Röntgenfluoreszenzanalyse, einen wellenlängendispersiven (WD) Detektor und einen energiedispersiven (ED) Detektor, der auch bei der µRFA eingesetzt wird. Der wellenlängendispersive Detektor besitzt einen Analysatorkristall, der die Röntgenstrahlung aufspaltet. Anhand des Beugungswinkel können dann die Elemente bestimmt werden. Diese Methode resultiert in einer höheren Auflösung und einer längeren Messzeit. Beim energiedispersiven Detektor wird die Energie der Strahlung in ein elektrisches Signal umgewandelt und ausgewertet. Diese Methode wird auch für Handheld-Geräte benutzt.

Werden Gesteine und Minerale in Abbaugebieten oder Proben von archäologischen Ausgrabungsstätten untersucht, ist die Matrixanpassung der gepressten nano-partikulären Pulverpresstabletten losen Pulverproben überlegen. Durch die Vielzahl der zur Verfügung stehenden Materialien und die individuelle Anpassung finden auch Sie das Referenzmaterial, dass zu ihrer Anwendung passt.

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